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浅述矿石分析仪如何检测硫化镍矿石中的杂质含量?

admin 2020-10-30 知识 443 ℃ 0 评论

手持式X射线荧光(XRF)分析仪提供高性能,实时的地球化学数据,用于快速多元素表征土壤,岩石和矿石。 手持式XRF技术的最新进展大大提高了检测下限,增加了测量元素的数量,大大降低了分析测试时间。 当用于矿物勘探和等级评估时,DELTA手持XRF分析仪可以提供在土壤,钻屑和钻芯样品中发现的镍(Ni)的实时分析。

图一硫化镍矿石

图一硫化镍矿石


手持式矿石分析仪用于世界各地监测活跃露天矿和地下矿山的矿石品位。 具体来说,手持式矿石分析仪可精确测量NiS沉积物中不需要的元素的浓度。 NiS沉积物中的砷(As),铅(Pb),铋(Bi)和锌(Zn)等元素的存在与浓度影响沉积物的冶炼。 高Fe:MgO比优于富含Mg的矿物如滑石和纤维蛇纹石,这对于常规工艺回路可能是有问题的,并且显着地影响回收质量。XRF分析仪可以减少在实验室中使用氢氟酸来分析其中的一些元素,如As。这使得矿场实验室的工作环境更安全。


DELTA手持式X射线荧光(XRF)分析仪可以在NiS矿山,矿井实验室和Ni处理设施内提供方便,快速的测量与NiS勘探相关的许多类型的样品。DELTA手持式XRF分析仪可以提供即时的结果,帮助确定整个过程的下一步行动 - 勘探,矿石等级/过程控制,环境可持续性。 现场检测金属,矿物质和污染物,节省时间,节约成本。如下图所示,DELTA Premium手持矿石分析仪的结果与认证值显示出良好的相关性,分析结果与认证值非常接近,精确度和准确度很好。

图二硫化镍矿石所含杂质图谱

图二硫化镍矿石所含杂质图谱


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光谱仪 | 2shousc

光谱仪又称分光仪,广泛为人知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

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